统计粒径需要多少个数据

㈠ 如何进行数据粒度分析

方法：横向是粒径值，该数值呈对数分布。左列是体积累计百分比，对应的是上升趋势的曲线图。右列是某一区间的体积百分比，对应的是起伏的直方图（或曲线图）。数据列表是分析图表相对应的测试结果。

拓展：

X10：颗粒累计分布为10%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的10%；

X50：颗粒粒径分布为50%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的50%；

X90：颗粒粒径分布为90%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的90%；

Xav：颗粒群的平均粒径；

S/V：体积比表面积，即单位体积颗粒的表面积；

X[3，2]：表面积平均粒径，是粒径对表面积的加权平均，又称索太尔平均径；

X[4，3]：体积平均粒径，是粒径对体积（或重量）的加权平均，同上述Xav。

㈡ 粒度参数的计算

合适的粒度参数能较简便地表示碎屑沉积物的粒度特征，在分析沉积物的搬运方式和介质的水动力条件方面，有一定的参考价值。粒度参数的计算有两种方法，即矩法与图解法。矩法计算是一种近似的定量计算，其优点是能使整个粒度分布都投入计算，但计算手续较为复杂。运用矩法统计粒度参数的公式分别是

图6-7 正态概率坐标

（1）平均值

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（2）标准偏差

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（3）偏度

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（4）尖度

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式中：f为每个粒级中质量百分数（频率）；m为每个粒级中间值，以φ表示；n为样品中颗粒总数，当以百分数表示时，n就等于100。

图解法可以从累积曲线上读出与某些累积百分数相应的颗粒直径，称之为分位数值，再经简单的数学运算，即可得出粒度参数。此法简便。精度也可以。

首先，从累积曲线图上读出下列参数：

φ₁——累积质量为1%的粒径φ值；φ₅——累积质量为5%的粒径φ值；φ₁₆——累积质量为16%的粒径φ值；φ₂₅——累积质量为25%的粒径φ值；φ₅₀——累积质量为50%的粒径φ值；φ₇₅——累积质量为75%的粒径φ值；φ₈₄——累积质量为84%的粒径φ值；φ₉₅——累积质量为95%的粒径φ值。

上列参数又称之为百分位数，例如φ₁₆相对应于16%处的粒径φ值，称之为第16百分位数。φ众数为含量最高的粒级φ值，可直接从原始分析数据上读出；＜4φ的粒级含量百分数，也可直接从原始分析数据上读出。

过去广泛采用的是特拉斯克（Trask，1930）提出的粒度参数计算公式：

（1）平均值

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（2）分选性

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式中：Q₁为第一四分位数，即相当于25%处的粒径大小；Q₃为第三四分位数，即相当于75%处的粒径大小。

（3）偏度

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特拉斯克的参数精度较差，不能表示出分布的粗尾和细尾的特征。因此，目前大都采用福克及沃德（Folk and Ward，1957）提出的粒度参数计算公式：

（1）平均值

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（2）标准偏差

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（3）偏度

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（4）尖度

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平均值可以反映沉积物的平均粒度，它是沉积物粒度特征中最主要的特征之一，常被用来作剖面粒度韵律曲线，作为沉积韵律的基础。或是作平面等值线图，表示沉积物在平面上的粒度变化。作为岩性变化的基础，划分沉积相带，追索物源方向。或是用于研究储油物性与粒度关系等方面，应用很广。

标准偏差（σ_φ）用来表示沉积物粒度的分选程度，即颗粒大小的均匀性。若粒级少，主要粒级很突出，百分含量高，分选就好，标准偏差的数值小；反之，粒级分布范围很宽，主要粒级不突出，甚至是两峰或多峰沉积物，则分选就差，标准偏差的数值大。

偏度（SK_φ）是用以度量频率曲线的不对称程度的，即表示非正态性特征的。按频率曲线对称的性质分为三类：正偏态、正态及负偏态（图6-8）。偏度公式的前一半是表示频率曲线中央部分的偏度，另一半表示粗细两尾端的偏度。

图6-8 正态频率曲线和正偏态、负偏态曲线

1）曲线对称时，SK_φ=0。

2）曲线不对称呈正偏时，SK_φ＞0，最大可达+1，通常不超过+0.8。

3）曲线不对称呈负偏时，SK_φ＜0，最小可到-1，通常不超过-0.8。

偏度与分选有密切关系，很纯的分选、很好的单峰沉积物频率曲线是对称的；当有另一组粗或细的少量组分加入时，分选变差，频率曲线为不对称，为正偏或负偏；当新加入组分的含量逐渐增加，相应地旧组分减少，至两组分的含量相等时，分选最差，频率曲线呈平坦的马鞍状双峰曲线，又趋于对称。

尖度或称峰态（K_φ）是计算分布曲线尾部展开度与中部展开度的比例来表示的。用之来说明与正态分布曲线相比时分布曲线的峰的宽窄尖锐程度（图6-9）。按福克和沃德（1957）所建议的尖度公式，正态曲线的K_φ=1.01，双峰分布的K_φ值可能低至0.68，而含尾部的尖峰分布，其K_φ可能在1.5～3之间，或更大些。

尖度和偏度一样，都是用来测量沉积物频率曲线的双峰性质和反映其尾部变化的。由于沉积物的粒度分布，以粗细两尾端部分对搬运介质的机械作用反映最灵敏，所以尖度和偏度可用于判断沉积环境和追溯物源方向。真正的单峰沉积物，如海滩砂，应该为常态曲线，有正常的偏度和尖度值。不正常的偏度和尖度值的出现说明沉积物是双峰或多峰的多物源的混合沉积物，在频率曲线上应显示双峰或多峰性质。但当次峰不明显时，曲线反映不出来，而偏度和尖度却能灵敏地表示出微弱的双峰或多峰性质。有的尖度比偏度更灵敏些。

图6-9 宽窄峰态与正态曲线形态的比较

㈢ 实习二 粒度分析资料整理与分析

沉积物的颗粒大小称为粒度。研究碎屑沉积物和碎屑岩的粒度分布特征的方法称为粒度分析。粒度分布特征可反映沉积介质的流体力学性质，故是判别水动力条件及沉积环境的一个重要标志，而且对于油气沉积储层的评价具有重要意义。

碎屑物质的搬运和沉积作用受水动力条件（如介质、流量、流速）的控制。因此，粒度大小及分布特征，可用来直接反映沉积时的水动力条件。

研究粒度分布特征，可提供以下信息：①明确搬运介质性质，如风、水、冰川、泥石流、浊流等；②判断搬运介质的能量条件，如流速、强度、起动能力等；③明确搬运方式，如滚动、跳跃、悬浮等；④明确沉积作用流体的性质，如牵引流、浊流等。

一、颗粒的测量与分组

粒度分析的方法很多，从原始的手工测量到由计算机控制的自动化仪器测量均有。最常用的方法有：直接测量法、筛析法、薄片法、激光衍射粒度分析等。选用的方法取决于测定对象的粒度大小及岩石的致密程度。对于致密的砂岩和粉砂岩一般采用薄片粒度分析法，即在显微镜下，用测微尺直接测量岩石薄片中颗粒的最大视直径，或将摄像装置与显微镜连接，使用由计算机控制的图像分析仪测量岩石薄片中颗粒的最大视直径。统计测量时的抽样方法可采用线测法或视域带法：线测法可用划线或机械台控制测线，凡测线上的颗粒均测，适合于人工测量；视域带法就是在一个视域内的颗粒全部测完后再移至相邻的下一个视域，两个视域应在某一十字丝方向上相切，适合于图像分析测量。每个岩石样品的薄片要求统计300～500个颗粒，并将测量直径d（mm）换算成ϕ值（d值和ϕ值的对应关系见表2-1），按

ϕ或

ϕ间隔分组，计算各组内颗粒百分数。

表2-1 粒径d值和ϕ值的对应表

二、粒径校正与杂基校正

（一）粒径校正

运用薄片粒度分析的方法所得到的分析结果与筛析法得到的结果有一定的偏差，薄片粒度与筛析粒径之间的偏差可达0.25ϕ或更大，这是切片效应造成的结果（切片效应是指在颗粒集合体的切片中，颗粒的视直径均小于其真直径），因此必须进行校正。常用弗里德曼（1962）提出的粒度校正公式：

D＝0.3815+0.9027d

式中：D为校正后筛析直径，ϕ；d为薄片中视直径，mm。

（二）杂基校正

在运用薄片粒度法进行粒度分析时还必须考虑砂岩中基质的影响，即进行杂基校正，方法是用显微镜测定或估出杂基含量，由于切片效应和成岩后生作用，估计的杂基含量值一般较高，常取其2/3或1/2为校正值，假定为x，将各累计频率乘以（100-x）作为该粒级的真正百分含量。

三、资料整理和编图的步骤和方法

（一）直方图

直方图是最常用的粒度分析图件（图2-1a），其横坐标为颗粒粒径（d值或ϕ值）区间，纵坐标表示各粒级区间的百分含量，作出一系列相互连接、高低不平的矩形图。直方图优点是能直观、简明地反映出粒度分布特征（绘制直方图时为使图件美观，要注意纵、横坐标的比例关系）。

图2-1 直方图（a）及由直方图所作频率曲线（b）

（二）频率曲线

频率曲线是用平滑曲线将直方图每个柱子顶端横边的中点依次连接而成的曲线（图2-1b），其围限的面积基本等于直方图的面积和。频率曲线可清楚地表明粒度分布特点、分选好坏、粒度分布的对称度（偏度）及尖度（峰度）等。

（三）累积曲线

累积曲线是以累积百分含量为纵坐标（算术标度），以粒径（d值或ϕ值）为横坐标，从粗粒一端开始，在图上标出每一粒级的累计百分含量。将各点以圆滑的曲线连接起来，即成累积曲线（图2-2之2）。累积曲线一般呈S形，从图上可看出其粒级分选的好坏，在计算粒度参数时也可由图上读出某些累计百分比对应的粒径值。

（四）概率累积曲线

概率累积曲线也是一种粒度累积曲线（图2-3），它是在正态概率纸上绘制的，横坐标代表粒径（d值或ϕ值）；纵坐标为以概率标度的累积百分数，概率坐标不是等间距的，而是以50%处为对称中心，上下两端相应地逐渐加大，这样可以将粗、细尾部放大，并清楚地表现出来。概率曲线一般包含有3个次总体（也有部分图件只有1个或2个次总体），在概率图上表现为3个直线段，代表了3种不同的搬运方式，即悬浮搬运、跳跃搬运和滚动搬运。3个次总体在累积概率曲线上分别称为悬浮总体、跳跃总体和滚动总体（牵引总体），概率图上除3个次总体之外的其他参数有：截点、混合度、次总体百分含量、分选性。

图2-2 三种常见的粒度曲线

（据赖内克等，1973；转引自陈建强等，2015）

1—频率曲线；2—累积曲线；3—概率累积曲线

图2-3 概率累积曲线及粒度分布中的总体

（据维谢尔，1969；转引自陈建强等，2015）

（五）粒度参数计算

常用的粒度参数有平均粒度（Mz）、标准偏差（σ_i）、偏度（Sk）、峰态（K_G），常用图解法计算粒度参数，即从累积曲线上读出某些累积百分比处的颗粒直径（ϕ值），再以简单算术公式计算各种粒度参数。

（1）平均粒度（Mz）：表示一个样品的平均粒度大小，反映搬运介质平均动能，计算公式为：

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（2）标准偏差（σ_i）：表示分选程度，即反映颗粒的分散和集中状态，计算公式为：

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（3）偏度（Sk）：用来表示频率曲线对称性的参数，偏度计算公式为：

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（4）峰态或尖度（K_G）：用来在与正态频率曲线相对比时，说明曲线的尖锐或钝圆程度。峰态计算公式为：

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（六）C-M图

C-M图是帕塞加（Passega）提出的综合性成因图解（图2-4），是一种粒度参数散布图。一般认为C值和M值这两个粒度参数最能反映介质搬运和沉积作用的能力，故运用这两个参数分别作为双对数坐标纸上的纵、横坐标（以微米为单位），构成C-M图。C值为累积曲线上含量为1%的粒径值（以微米为单位）；M值为累积曲线上含量为50%的粒径值（以微米为单位）。

图2-4 浊流和牵引流沉积的C-M图型

（据Passega，1964）

典型的C-M图形可划分为NO、OP、PQ、QR、RS各段和T区。不同区段代表不同沉积作用的产物：①NO段代表滚动搬运的粗粒物质，C值大于1mm；②OP段以滚动搬运为主，滚动组分和悬浮组分相混合，C值一般大于800μm，而M值有明显变化；③PQ段以悬浮搬运为主，含有少量滚动组分，C值变化而M值不变；④QR段代表递变悬浮段，递变悬浮搬运是指在流体中悬浮物质由下到上粒度逐渐变细，密度逐渐变低，C值与M值成比例变化，从而使这段图形与C＝M基线平行；⑤RS段为均匀悬浮段，C值变化不大，而M值变化大，主要是细粉砂沉积物；⑥T区为远洋悬浮物，M＜10μm。

编制C-M图的样品通常从一套同成因的地层单元中系统采集，从最粗到最细粒的各种代表性岩性中均应分别取样，每一个C-M图取样数一般为20～30个，在C-M图上构成一个点群，描绘出点群的外形即为C-M图。因此，每一个C-M图可反映几米至几十米厚的同成因地层剖面岩石的粒度特征。

四、实习内容

根据所给数据资料绘制粒度分析的直方图、频率曲线、累积曲线、概率累积曲线和C-M图。用图解法计算粒度参数，并解释其环境意义。

五、实习目的与要求

掌握粒度分析资料的整理、图件的编制、粒度参数的计算及解释。

六、实习资料和作业

（一）实习资料

（1）样品A薄片粒度测量数据统计表（表2-2）。

表2-2 样品A薄片粒度测量数据统计表

（2）地层B薄片粒度分析的C-M值（表2-3）。

表2-3 地层B薄片粒度分析的C-M值

（二）作业

（1）根据表2-2所给数据分别绘制样品A的直方图、频率曲线、累积曲线、概率累积曲线。

（2）用图解法计算粒度参数：平均粒度（Mz）、标准偏差（σ_i）、偏度（Sk）、峰态（K_G），并解释其环境意义。

（3）根据所给的地层B薄片粒度分析的C-M数据（表2-3）编制C-M图，并进行流体性质和沉积环境解释。

实习报告二 粒度分析资料整理与分析

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㈣ 测粒径的时候，会得到粒径和PDI的数据，想请教一下，PDI是粒径分布指数，它的具体定义是什么

1、Polymer dispersity index(PDI)是聚合物分散性指数，用于描述聚合物分子量分布。

高分子的分子量通常不均一，本质上是混合物，用平均分子量来描述高分子的分子量大小，平均分子量可分为数均分子量、重均分子量和粘均分子量，其中重均分子量和数均分子量之比称为多分散性指数，数值大于1。PDI越大，分子量分布越宽；PDI越小，分子量分布越均匀。

2、粒径的表示

一般将粒径分为代表单个颗粒大小的单一粒径和代表由不同大小的颗粒组成的粒子群的平均粒径。由于实际颗粒的形状通常为非球形的，难以直接用直径表示其大小，因此在颗粒粒度测试领域，对非球形颗粒，通常以等效粒径（一般简称粒径）来表征颗粒的粒径。

等效粒径是指当一个颗粒的物理特性或物理行为与某一直径的同质球体（或组合）最相近时，就把该球体的直径（或组合）作为被测颗粒的等效粒径（或粒度分布）。

（1）、最大粒径

指粒度分布曲线中最大颗粒的等效直径。D90粒径、D95粒径、D98粒径分别是分布曲线中累积分布为90%、95%、98%时的最大颗粒的等效直径。

（2）、单一粒径

球形颗粒的大小是用其直径来表示的。对于非球形颗粒，一般有三种方法定义其粒径，即投影径、几何当量径和物理当量径。投影径指颗粒在显微镜下所观察到的粒径。几何当量径取与颗粒的某一几何量相等时的球形颗粒的直径。物理当量径取与颗粒的某一物理量相等时的球形颗粒的直径。

（3）、平均粒径

平均粒径是粒度分布曲线中累积分布为50%时的最大颗粒的等效直径。对于一个由大小和形状不相同的粒子组成的实际粒子群，与一个由均一的球形粒子组成的假想粒子群相比，如果两者的粒径全长相同，则称此球形粒子的直径为实际粒子群的平均粒径。

(4)统计粒径需要多少个数据扩展阅读

1、粒度的测量实质上是通过把被测量颗粒和同一种材料构成的圆球相比较而出的；

2、不同原理的仪器选不同的物理特性或物理行为作为比较的参考量，例如沉降仪选用沉降速度，激光粒度仪选用散射光能分布，筛分法选用颗粒能否通过筛孔等；

3、将待测颗粒的某种物理特性或物理行为与同质球体作比较时，有时能找到一个（或一组）在该特性上完全相同的球体，有时则只能找到最相近的球体。由于理论上可以把“相同”作为“相近”的特例，所以在定义中用“相近”一词，使定义更有一般性；

4、将待测颗粒的某种物理特性或物理行为与同质球体作比较时，有时能找到某一个确定的直径的球与之对应，有时则需要一组大小不同的球的组合与之对应，才能最相近。

5、颗粒的大小统称为粒度（particlesize）。具体地说，球形颗粒的粒度用他的直径表示称为“粒径（particlediamite）”，非球形颗粒没有直径可言，就采用“等效粒径”的概念描述它的粒度，不同的等效粒径有不同的物理意义。粒径是较为具体准确的物理概念。

㈤ 粒度分布的计算方法

D50：一个样品的累计粒度分布百分数达到50%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径大于它的颗粒占50%，小于它的颗粒也占50%，D50也叫中位径或中值粒径。D50常用来表示粉体的平均粒度。

D90：一个样品的累计粒度分布数达到90%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径小于它的的颗粒占90%。D90常用来表示粉体粗端的粒度指标。 其它如D16、D90等参数的定义与物理意义与D97相似。

D10：D10就是纵坐标累计分布10%所对应的横坐标直径值。

颗粒累计分布为10%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的10%。颗粒粒径分布为50%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的50%。颗粒粒径分布为90%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的90%。

产品种类丰富，其中激光衍射粒度分析仪可为干湿法分散提供快速、精确、便捷的粒径分布测试。 该分析仪可在纳米至毫米粒度范围内进行测量，体积小巧、性能卓越、稳定可靠，可为所有用户提供无需操作者干预的测量。

(5)统计粒径需要多少个数据扩展阅读：

数学方程式亦可用来描述粒度分布。虽曾有人尝试将这类数学式与实际断裂力学相联系，但多数还是一些仅便于表述数据的经验关系式。当数据必须处理时，数学式可能有用；但这往往要求使用计算机，而在这类条件下，实际数据的矩阵表示同样方便，而且更可靠。

粒度数据的图示法通常是以横坐标(x轴)列出颗粒粒度，以纵坐标(y轴)列出测得的基准量。表示数量有两种方法：一种是列出每一粒级中的量(绝对量，分数，或百分数)，另一种方法是列出高于或低于某一粒度的累计量(分数或百分数)。

㈥ 如何用Origin统计粒径大小及分布

1. 数据放在一列，类型设置为Y

2. 选中这列数据，plot选项卡---Statistics---Histogram（如果要画累积分布曲线则选择Histogram+Probabilities）

3. 如果想看统计的数据则可以在Graph界面右键--got to bin worksheet（步长等可以自己设置）
   

㈦ 如何用谢乐公式计算粒径

求助 jade 或其他软件 利用谢乐公式计算粒径

初次接触jade 请大家帮我计算下 附件中四个 raw数据的 平均粒径。
元素均为NiZnO, 需要知道 Ni ZnO 粒径。
我用jade 6.5 ，它里面可以直接计算粒径，但不知道 对不对。恳请大家帮助。

那个是晶胞 不是晶粒尺寸，你在核查一下。我自己也不确定了。

lkzmaster

11楼:Originally posted bylinqi723at 2011-02-25 09:08:09:
jade 拟合
jade 6.5 ， 寻峰报告， 拟合
5b/33/559344_1298596024_278.jpg

请问一下report的最后一项XS（A），数据中括号里代表什么就比如176（4）这里的176和4各代表什么呢？

㈧ 粒度分析

粒度与搬运流体的性质及其力学特征密切相关，它是判别环境的标志之一。目前国际上应用最广的粒度分级标准是伍登-温德华粒级。它是以1mm作为基数乘以或除以2来分级的。后经克伦宾将其转化为φ值。转换公式为：

φ＝-log₂d

式中：d为毫米直径值。形成一个以1为基数，2为公比数的等比级数列。如表4-3所示。

表4-3 伍登-温德华φ值粒度标准

^*有些分界点记为0.05mm；^**有些分界点记为0.005mm

沉积物粒度测量方法，主要包括放大镜、照片分析、筛析、沉降分析、显微镜下粒度分析等方法。针对不同的颗粒选择适用的方法进行测量，其中，砾石等颗粒级别较大的多用皮尺或测量规直接测量，用量筒测砾石的体积。可松解或疏松的细、中碎屑岩多采用筛析法。粉砂及黏土岩常用沉降法、流水法等方法测量。固结的无法松解的岩石多采用显微镜下粒度分析。不同的方法测出的结果，略有差别，需校正后才能互用，其中沉降粒径和筛析粒径之间的偏差小于或等于0.1φ，可以直接互用。但薄片显微镜下分析粒径，因存在切片效应，需经过弗里德曼（1962）所提出的粒度的回归校正方程：

D＝0.3815+0.9027d

式中：D为校正后的筛析粒径，d是薄片中测定的视长径，均为φ单位。进行校正后才能与筛析法的结果相互用，一般校正后的平均粒径最大偏差一般不超过1/4φ单位。

此外，在粒度测量中杂基校正是一项重要的工作，其方法是：显微镜测至7φ，测定或估出杂基含量。取其2/3～1/2为校正值，假定为Δ，将各累计频率乘以（100-Δ），重新绘曲线。对于弱固结岩石，可用同一标本既做筛析也作薄片分析，通过实验求出校正系数（100-Δ）的数值。

粒度分析的结果可获取到大量的测值，这种大量的数字资料要用统计的方法加以处理，才能推断其与流体力学性质和沉积环境之间的关系。主要的方法是：根据资料做出一些图件，从这些图件上做定量的解释分析。或者直接通过计算，统计参数。两种方法各有优劣，往往需综合分析利用。

粒度分析图主要包括直方图、频率曲线图和累积曲线图（累积百分含量图）。其中最常用的是累积百分含量图，是由维希尔（1969）根据采自现代和古代不同环境内的1500个样品测得的粒度数据，以粒径（φ值）为横坐标，以累积概率值为纵坐标，用来表现大于一定粒级的百分含量统计图。他通过分析得出了沉积物搬运方式与粒度分布之间的关系，以及一些环境的概率图模式（图4-1）。

图4-1 搬运方式与粒度分布的关系

（据Visher，1969）

沉积物的粒度一般不是表现为单一的对数正态分布，因此，在概率分布图上总是表现为几个相交的直线段。每个直线段是不同搬运方式产生的响应。主要包括牵引负载、跳跃负载和悬浮负载三种。其中，悬浮负载的颗粒一般很细，粒径在0.1mm左右，其负载颗粒的粗细变化取决于介质的扰动强度，在概率图上的右上角形成悬浮次总体；跳跃负载是指靠近河床底部层，通过在动荡的水中或流水中对颗粒进行分选，粒径一般在0.15～1.0mm之间，往往是沉积样品中分选最好的组分，在概率图的中部形成跳跃次总体，其不是一个粒度总体，而是由两部分组成，如海滩砂；底部牵引负载是粗粒组分，因颗粒粗而在地面上滚动，形成的滚动次总体位于图的左下方。沉积物因粒径大小和分选性的不同，经历了不同的搬运方式，在累积概率图上形成了不同的次总体直线。直线的不同斜率代表不同的分选性，斜率越大代表分选越好，一定的粒度分布区间和斜率，表明不同的次总体具有一定的平均粒径和标准偏差。各直线段的交点称为交截点，有的样品在两个粒度次总体间有混合带，在图上表现为两线段圆滑接触。

大量的粒度数据通过计算获得各种分析参数后，往往也通过作图来进行定量分析，最常用的是弗里德曼（1961，1967）通过对现代海洋与河流、湖滩沉积所做的粒度分析，用粒度参数离散图（采用10种粒度参数，作出19种图）来区分河流与海（湖）滩沉积。离散图能够把不同成因的砂区别开来，是由于不同成因的砂具有不相同的结构参数。

此外，C-M图也是另外一种常用的图版（图4-2），它是应用每个样品的C值和M值绘成的图形，由Passega（1957，1964）所提出。其中，C值是累积曲线上颗粒含量1%处对应的粒径，M值是累积曲线上50%处对应的粒径。C值与样品中最粗颗粒的粒径相当，代表了水动力搅动开始搬运的最大能量；M值是中值，代表了水动力的平均能量。该图版对于每一个样品都可以用其C值和M值，在以C值为纵坐标，以M值为横坐标的双对数坐标纸上投得一个点，研究沉积地层包含的由粗至细的全部粒度结构类型样品在图纸上会投得一个点群。根据点群的分布绘出的图形形态、分布范围，以及图形与C-M基线的关系等特点，与已知沉积环境的典型C-M图进行对比，再结合其岩性特征，从而对该层沉积岩的沉积环境做出判断。

图4-2 牵引流的C-M图像及粒度类型

（据Passega，1964）

在C-M图中，Ⅰ，Ⅱ，Ⅲ，Ⅸ 段表示C＞1000μm，Ⅳ，Ⅴ，Ⅵ，Ⅶ，Ⅷ段表示C＜1000μm。1表示牵引流沉积，2表示浊流沉积，“T”代表静水悬浮沉积。“S”形图是以河流沉积为例的完整C-M图，可划分为N—O—P—Q—R—S段。其中从左至右：

N—O段基本上由滚动颗粒组成，C值一般大于1mm（1000μm），常构成河流的砂坝砾石堆积物。

O—P段是滚动物质与间歇悬浮物质（跳跃）混合，物质组分中滚动组分与悬浮组分相混合。C值一般大于800μm，但由于滚动组分中有悬浮物质的参加，从而使M值有明显的变化。C值稍微变化即会使M 值发生重大改变，即粒度分布极不对称，粗细首尾不均。

P—Q段是以间歇悬浮质为主，粗粒滚动质减少。由上游至下游C值变化而M值不变，说明随着流体搬运能力的减弱，越向下游滚动组分的颗粒越小。但由于滚动颗粒的数量并不多，因此M值基本不变。P点附近的C值以C_r表示，它代表着最易作滚动搬运的颗粒直径。

Q—R段为递变悬浮段，沉积物的特点是C值与M值相应变化，显示出与C＝M线平行的结果，主要搬运方式为递变悬浮搬运，悬浮物质组分在流体中由下向上粒度逐渐变细，密度逐渐变低。它一般位于水流底部，常是由于涡流发育造成的。该段C的最大值以C_s表示。

R—S段为均匀悬浮段，是粒径和密度不随深度变化的完全悬浮，随着M值向S端逐渐变小，C值基本不变，最大C值即C_u，它代表均匀悬浮搬运的最大粒级。搬运方式常是递变悬浮之上的上层水流搬运，不受底流搬运分选，物质组成主要为粉砂和泥质混合物，最粗的粒度为细砂。表示在河流中从上游至下游沉积物的粒度成分变化不大，只是粗粒级含量相对减少。

C-M图也可用来研究水深、分选性、古流速和碎屑岩分类等，它是一种多功能综合图。

㈨ 粒度直方图需要哪些数据

需要累计粒度分布数据与曲线、区间粒度分布数据与直方图、典型粒径值。直方图直方图是最常用的粒度分析图件，以横坐标表示粒级大小，纵坐标表示粒级的百分含量，每个粒级都按其百分含量画出不同高度的柱子，来表示粒度分布的特征。

㈩ 粒度分析报告怎么看 粒度分布图数值怎样分析

1、测试报告由6部分组成：表头、样品信息及测试信息、分析结果、图形、数据表、表尾。

2、量程：即测试范围，在软件的数据模板中选定。

3、分散介质：用于分散被测样品的介质。被测物质与分散介质不能发生化学反应，也不能在其中溶解。

4、分散剂：能够改变颗粒与液体之间的界面状态，促进颗粒充分分散的化学物质。

5、光学浓度：即遮光比。

6、样品浓度：即样品在分散介质中的体积百分比浓度，需要在系数校准设置中输入体积百分比计算系数后才能分析。

7、自由分布：由无约束自由拟合算法所得的样品本身固有的自然粒度分布。软件中还设有R-R分布和对数正态分布。

8、X10：颗粒累计分布为10%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的10%。

9、X50：颗粒粒径分布为50%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的50%。

10、X90：颗粒粒径分布为90%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的90%。

11、Xav：颗粒群的平均粒径。

12、S/V：体积比表面积，即单位体积颗粒的表面积。

13、X[3，2]：表面积平均粒径，是粒径对表面积的加权平均，又称索太尔平均径。

14、X[4，3]：体积平均粒径，是粒径对体积（或重量）的加权平均，同上述Xav。

15、拟合误差：能谱数据向粒度分布数据转换时产生的计算误差。

16、自定义项目分析结果：用户根据需要自行添加的分析项目，添加该分析项目后，软件自动显示出结果。