『壹』 CP與CPK之間相差太大,說明什麼問題
說明了實際值的中心值偏離了規格的中心值,要麼偏上限,要麼偏下限,需要對中心值進行調整,使其桐旦接近規格中心值。
從下面的公式,可以山斗看出,CP沒有考慮U值(實際中心值),CPK要考慮,這就是逗輪磨兩者差異的來源。
CP=(USL-LSL)/6 sigma
CPK=Min(CPL,CPU)
*CPL=(u-LSL)/3 sigma
*CPu=(USL-u)/3 sigma
『貳』 cpk與均值和標准差的關系
cpk指數是用來衡量產品質量的一個指標,它可以用來衡量一個產品的穩定性和質量水平。它是由均值和標准差來計算的,其公式念咐為:CPK=(USL-LSL)/(3*σ),其中USL和LSL分別為上限和下限,σ表示標准差。 如果cpk指數越大,則表示產品的質量越好,這意味著均值和標准差都越小,即均值和標准差越接近,而且均值靠近上限和下限,表示產品的洞彎質量越仔顫純穩定。
『叄』 沒有超出上下限為什麼cpk還是不合格
數據沒有超出上下拿殲睜限,但是數據不集中,CPK就不達標。
例如下圖CPK分析圖:
所顯示數值沒有超出規改纖格上下限,但是cpk只有0.47,證明這個過程是不穩定消歲的,需要改善。
『肆』 CPK值為什麼會有0.67/1.0/1.33/1.67
CPK:Complex Process Capability index 的縮寫,是現代企業用於表示製程能力的指標。
現今下產品的質量要求越來越高,產品的質量也不是僅僅能保證在公差范圍內就能滿足要求,因此對產品的質量關注從原來的被動檢查產品尺寸轉換到對產品加工過程的控制,那麼如何來評價某個過程對產品加工質量的控制能力,利用統計學的原理按照一定的時間規律、抽樣方案對加工生產出的產品進行數據統計,通過計算其產品數據的離散度、標准差等數據來表達這個過程中產品的質量波動情況,CPK就在這種情況應運而生。
CPK用數值來表示,該值反映的是製造加工過程式控制制能力的大小,數值越大表示該過程的控制能力越好,產品的一致性越好,產品的尺寸變化波動越小越靠近中間值;而數值越大表示該過程的控制能力越差,產品的一致性越差,產品的尺寸變化波動越大離散度越大,甚至容易超出兩邊極限公差。
CPK的計算數據由至少125組數據組成,抽取的數據也有一定的要求(每5件為一組連續數據,每組之間按一定的時間間隔進行),抽取數據時製程必須是無任何異常狀態下進行,所以CPK值反應的唯冊芹是某個製程在正常工作狀態下的過程式控制制能力。
CPK來源於6西格瑪管理(6σ),CPK值為0.67、1.0、1.33、1.67分別反映的是西格瑪水平的2、3、4、5水平等級。在西格瑪水平中,1代表能力過小,2代表能力不足,3代表能力尚可,4代表能力充足,5、6代表能力過剩。所以CPK值定位0.67、1.0、1.33、1.67並不是隨意定的,是與6σ水平等級的2、3、4、5水平等級相對應的,同時與PPM(每百萬產品缺陷數)也有相對應的數據。
,以參數(a, b,G, n, p)定義。其中a, b是系數,a,b,x,y∈p,G為加法群的基點,n是以G為基點的群的階。令任意小於n的整數為私鑰,則r G=R為對應公鑰。
參考資料網路-CPK
『伍』 測量數據在標准范圍之內,但CPK值卻很小,說明什麼
通常情況是2種狀態:
1、偏移,樣本盡管都在公差范數殲搜圍內,但均值偏移中值較遠,哪怕樣本的一致性很好,CPK值會很小(但CP較
好),問題點在於調試時未關注調試中差;比較容易改改宏善。
2、離散,樣本盡管都在公差范圍內,但值非常離散,無規律,極差較大,CP、CPK都很小;
問題比較復雜,找問題的方向:測量方法、測量精度是否有問題?公差要求太嚴,實際加工能力達不到,加工定位方式不一致等。薯歷。。。。。。。。。。。。。。。
以上經驗來自機械加工。。。
『陸』 CPK不達標與哪些因素有關
cpk要想達標的話,要使數據集中到中值附近瞎局斗磨磨,如果數據集中位置偏離了中值較遠,比臘消如偏向中值左側,或者右側,雖然集中,但是cpk的值會很小
『柒』 所有數據都合格,cpk能力差,為什麼
靠近規格限的數據個數多,導致標准差大;或者均值偏離中心較遠讓碼讓。看一下直方圖圖模租形是否正常。坦局
『捌』 CPK的數據為什麼要大於30
不斷把相關數據代入公式,計算,過程中用EXCEL表調整數據(不斷調整相關參數,得不同得CPK值),看什麼條件才能達到客戶得要求
CPK:Complex Process Capability index 的縮寫,是現代用於表示製成能力的指標。
CPK值越大表示品質越佳。
CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))
Cpk——過程能力指數
CPK=﹛公差-2*(製程中心-規格中心)﹜/6δ
δ=R平均值除2.33(2.33是通用常數)
Cpk應用講議
Cpk的中文定義為:製程能力指數,是某個工程或製程水準的量化反應,也是工程評估的一類指標。
2. 同Cpk息息相關的兩個參數:Ca , Cp.
Ca: 製程准確度。 Cp: 製程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的關系: Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應,Ca反應的是位置關系(集中趨勢),Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
4. 當選擇製程站別用Cpk來作管控時,應以成本做考量的首要因素,還有是其品質特性對後製程的影響度。
5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據,方具有一定代表性。
6. 計算Cpk除收集取樣數據外,還應知曉該品質特性的規格上下限(USL,LSL),才可順利計算其值。
7. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ),再計算出規格公差(T),及規格中心值(u). 規格公差=規格上限-規格下限;規格中心值=(規格上限+規格下限)/2;
8. 依據公式: , 計算出製程准確度:Ca值
9. 依據公式:Cp = , 計算出製程精密度:Cp值
10. 依據公式:Cpk=Cp , 計算出製程能力指數:Cpk值
11. Cpk的評級標准:(可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策)
A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 > Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好,狀態穩定,但應盡力提升為A+級
B 級 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般,製程因素稍有變異即有產生不良的危險,應利用各種資源及方法將其提升為 A級
C 級 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多,必須提升其能力
D 級 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差,應考慮重新整改設計製程。
『玖』 為什麼mintable中CPK的值算出來與實際公式算的不一樣
ppk,cpk,mk三者的區別及計算
首先我們先說明Pp、Cp兩者的定義及公式
Cp(Capability Indies of Process):穩定過程的能力指數,定義為容差寬度除以過程能力,不考慮過程有無偏移,一般表達式為:
Pp(Performance Indies of Process):過程性能指數,定義為不考慮過程有無偏移時,容差范圍除以過程性能,一般表達式為:
(該指數僅用來與Cp及Cpk對比,或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序)
CPU:穩定過程的上限能力指數,定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限,一般表達式為培埋:
CPL:穩定過程的下限能力指數,定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限,一般旅桐表達式為:
2、現在我們來闡述Cpk、Ppk的含義
Cpk:這是考慮到過程中心的能力(修正)指數,定義為CPU與CPL的最小值。它等於過程均值與最近的規范界限之間的差除以過程總分布寬度的一半。即:
Ppk:這是考慮到過程中心的性能(修正)指數,定義為: 或 的配鎮螞最小值。即:
其實,公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度,μ與M的偏離為ε=| M-μ|
3、公式中標准差的不同含義
①在Cp、Cpk中,計算的是穩定過程的能力,穩定過程中過程變差僅由普通原因引起,公式中的標准差可以通過控制圖中的樣本平均極差估計得出。
因此,Cp、Cpk一般與控制圖一起使用,首先利用控制圖判斷過程是否受控,如果過程不受控,要採取措施改善過程,使過程處於受控狀態。確保過程受控後,再計算Cp、Cpk。
②由於普通和特殊兩種原因所造成的變差,可以用樣本標准差S來估計,過程性能指數的計算使用該標准差。
4、幾個指數的比較與說明
① 無偏離的Cp表示過程加工的均勻性(穩定性),即「質量能力」,Cp越大,這質量特性的分布越「苗條」,質量能力越強;而有偏離的Cpk表示過程中心μ與公差中心M的偏離情況,Cpk越大,二者的偏離越小,也即過程中心對公差中心越「瞄準」。使過程的「質量能力」與「管理能力」二者綜合的結果。Cp與Cpk的著重點不同,需要同時加以考慮。
② Pp和Ppk的關系參照上面。
③ 關於Cpk與Ppk的關系,這里引用QS9000中PPAP手冊中的一句話:「當可能得到歷史的數據或有足夠的初始數據來繪制控制圖時(至少100個個體樣本),可以在過程穩定時計算Cpk。對於輸出滿足規格要求且呈可預測圖形的長期不穩定過程,應該使用Ppk。」
④ 另外,我曾經看到一位網友的帖子,在這里也一起提供給大家(沒有徵得原作者本人同意,在這里向原作者表示歉意和感謝),上面是這樣寫的:
「所謂PPK,是進入大批量生產前,對小批生產的能力評價,一般要求≥1.67;而CPK,是進入大批量生產後,為保證批量生產下的產品的品質狀況不至於下降,且為保證與小批生產具有同樣的控制能力,所進行的生產能力的評價,一般要求≥1.33;一般來說,CPK需要藉助PPK的控制界限來作控制
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