多少組數據可以決定製程能力狀況

A. 檢查檢查cpk是什麼意思

CPK是「Process Capability Index」 的縮寫。
CPK的中文定義為：製程能力指數，是現代企業用於表示製程能力的指標，也即某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
CPK值越大表示品質越佳。
CPK的計算公式
CPK=CP*（|1-CA|）

Ca (Capability of Accuracy)：製程准確度;

Cp (Capability of Precision) :製程精密度;

注意: 計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性。

B. 計算CPK最少需要多少數據

一般情況下至少需要25組或以上的數據。

在製作CPK之前應先確定過程是否穩定，常用控制制圖分析（最常用的是用Xbar-R圖），而Xbar-R圖一般是要100-125組數據，因而如果只有5組是不可行的。

就PPK而言過程穩定也是前提，在PPAP手冊中也是建議用125組進行初始過程性能指數的計算。另就CPK與PPK只是長期能力指數與短期能力指數，在計算時都要求過程穩定，只是在標准差的計算上有所不同。

CPK密鑰管理體制依據離散對數難題的數學原理構建公開密鑰與私有密鑰矩陣，採用雜湊函數與密碼變換將實體的標識映射為矩陣的行坐標與列坐標序列，用以對矩陣元素進行選取與組合，生成數量龐大的由公開密鑰與私有密鑰組成的公鑰、私鑰對，從而實現基於標識的超大規模的密鑰生產與分發。

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基於ECC的CPK的主要思想如下：

(1)設定由整數矢量（rij）組成的m*h階私鑰種子矩陣SSK。適當選取階為素數門的橢圓曲線E，選擇其上的一個基點G，計算公鑰矢量(rijG)=（xij，yij），得出公鑰種子矩陣PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用戶A的標識ID為參數，作h次映射（映射函數可以是加密演算法或Hash函數），得五個映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，進行模n下的加法運算，得出私鑰SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根據映射值和公鑰種子矩陣，設用戶A的h次映射值分別為i，j，k，進行橢圓曲線E上點的加法運算，得出公鑰PKA。由此形成了用戶A的公、私鑰對PKA和SKA。因子矩陣大小為mh的CPK系統，可組合出的密鑰量卻為mh，因此，CPK只需很小的存儲空間就可形成一個相當大的密鑰空間。

C. 製程能力的製程能力指標

·准確度：是一種製程能力指數，通常用Ca表示。其表示製程特性中心位置的偏移程度，數值越大偏移越大，數值越小偏移越小，值等於0即不偏移。如果計算出的Ca值為負數，則表示偏左，無負號則表示偏右。Ca的計算公式為：
Ca=|(CL-SL)|/(USL-SL) (CL在SL右邊) 當USL=SL時，Cs則無意義。
Ca=|(CL-SL)|/(SL-LSL) (CL在SL左邊) 當LSL=SL時，Cs則無意義。
·精密度：也是一種製程能力指數，通常用Cp表示。Cp在衡量製程的變異寬度與規格公差范圍相差的情形，其表示製程特性的一致性程度，值越大越集中，值越小越分散。也就是常說的理論製程能力。Cp的計算公式為：
1）雙邊規格時：規格上下限的距離除以6倍的標准差。
Cp= (USL-LSL)/6σ = (USL-LSL)/ (UCL-LCL)
2）單邊上限規格時：
Cp= (USL-CL)/3 =CPU
3）單邊下限規格時：
Cp= (CL-LSL)/3 =CPL
·製程能力指數（CPK）：也就是實際製程能力，同時考慮偏移和精度。表示實際製程能力滿足產品質量標准(產品規格、公差)的程度。因此，CPK的數值越大就越好。綜合Ca與Cp兩值的指數，其公式為：
CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]
當Ca=0時，CPK=Cp

D. 為什麼計算CPK需要20-25組數據

cpk=(1-k)cp
既然都是中間那麼k就等於零，此製程能力確實非常prefect,公式已給出。
補充一下：不用算了，一看就知道，呵呵

E. 關於計算「製程能力指數」CPK收集數據的問題

可以每組只用10個數據, 比如只用前10個數據, 這樣子組大小就相等了.

F. CPK的計算方法，舉例說明！

CPK：ComplexProcessCapabilityindex是現代企業用於表示製成能力的指標。 CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）） Cpk——過程能力指數 CPK=Min[(USL-Mu)/3s,(Mu-LSL)/3s] Cpk應用講議 1.Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。 2.同Cpk息息相關的兩個參數：Ca,Cp. Ca:製程准確度。Cp:製程精密度。 3.Cpk,Ca,Cp三者的關系：Cpk=Cp*(1-｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢) 4.當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。 5.計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。 6.計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。 7.首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u).規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2； 8.依據公式：Ca=(X-U)/(T/2)，計算出製程准確度：Ca值 9.依據公式：Cp=T/6σ，計算出製程精密度：Cp值 10.依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)，計算出製程能力指數：Cpk值 11.Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策） A++級Cpk≥2.0特優可考慮成本的降低 A+級2.0＞Cpk≥1.67優應當保持之 A級1.67＞Cpk≥1.33良能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級 B級1.33＞Cpk≥1.0一般狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為A級 C級1.0＞Cpk≥0.67差製程不良較多，必須提升其能力 D級0.67＞Cpk不可接受其能力太差，應考慮重新整改設計製程。PPK： Pp（PerformanceIndiesofProcess）：過程性能指數，定義為不考慮過程有無偏移時，容差范圍除以過程性能。 （該指數僅用來與Cp及Cpk對比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序） CPU：穩定過程的上限能力指數，定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限： CPL：穩定過程的下限能力指數，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限。 公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=|M-μ| 關於Cpk與Ppk的關系，這里引用QS9000中PPAP手冊中的一句話：「當可能得到歷史的數據或有足夠的初始數據來繪制控制圖時（至少100個個體樣本），可以在過程穩定時計算Cpk。對於輸出滿足規格要求且呈可預測圖形的長期不穩定過程，應該使用Ppk。」 所謂PPK，是進入大批量生產前，對小批生產的能力評價，一般要求≥1.67；而CPK，是進入大批量生產後，為保證批量生產下的產品的品質狀況不至於下降，且為保證與小批生產具有同樣的控制能力，所進行的生產能力的評價，一般要求≥1.33；一般來說，CPK需要藉助PPK的控制界限來作控制。

G. CPK的數據為什麼要大於30

不斷把相關數據代入公式，計算，過程中用EXCEL表調整數據（不斷調整相關參數，得不同得CPK值），看什麼條件才能達到客戶得要求

CPK：Complex Process Capability index 的縮寫，是現代用於表示製成能力的指標。

CPK值越大表示品質越佳。

CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））

Cpk——過程能力指數

CPK=﹛公差-2*(製程中心-規格中心)﹜/6δ

δ=R平均值除2.33(2.33是通用常數)

Cpk應用講議

1. Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。

2. 2. 同Cpk息息相關的兩個參數：Ca , Cp.

3. Ca: 製程准確度。 Cp: 製程精密度。

4. 3. Cpk, Ca, Cp三者的關系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)

5. 4. 當選擇製程站別用Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

6. 5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

7. 6. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

8. 7. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；

9. 8. 依據公式： ， 計算出製程准確度：Ca值

10. 9. 依據公式：Cp = ， 計算出製程精密度：Cp值

11. 10. 依據公式：Cpk=Cp ， 計算出製程能力指數：Cpk值

12. 11. Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）

13. A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低

14. A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之

15. A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級

16. B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級

17. C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力

18. D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
    

H. 製程能力的製程能力分析

製程能力分析(process capability analysis)：在產品生產周期內統計技術可用來協助製造前之開發活動、製程變異性之數量化、製程變異性相對於產品規格之分析及協助降低製程內變異性。這些工作一般稱為製程能力分析(process capability analysis)。所謂製程能力分析又稱為製程能力研究，是利用管制圖、次數分配圖及其它統計方法以決定製程能力的一種系統性工作，這種工作包括下列步驟：
1.確定能代表製程能力的質量特性。
2.由製程抽取樣本測定其特定性值普通需收集100至250個數據。
3.點繪出的形態，計算其平均值與標准偏差(利用次數分配圖) 。
4.解釋此種形態，發掘異常現象，確定在經濟上是否值得採取措施。
5.對異常現象採取措施。
這些步驟可以循環使用，直到獲得滿意的製程，此時的製程能力才是真正的製程能力。

I. 製程能力（CPK PPK）的計算有沒有數據點要求

一般需要25組或以上的數據