統計粒徑需要多少個數據

㈠ 如何進行數據粒度分析

方法：橫向是粒徑值，該數值呈對數分布。左列是體積累計百分比，對應的是上升趨勢的曲線圖。右列是某一區間的體積百分比，對應的是起伏的直方圖（或曲線圖）。數據列表是分析圖表相對應的測試結果。

拓展：

X10：顆粒累計分布為10%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的10%；

X50：顆粒粒徑分布為50%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的50%；

X90：顆粒粒徑分布為90%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的90%；

Xav：顆粒群的平均粒徑；

S/V：體積比表面積，即單位體積顆粒的表面積；

X[3，2]：表面積平均粒徑，是粒徑對表面積的加權平均，又稱索太爾平均徑；

X[4，3]：體積平均粒徑，是粒徑對體積（或重量）的加權平均，同上述Xav。

㈡ 粒度參數的計算

合適的粒度參數能較簡便地表示碎屑沉積物的粒度特徵，在分析沉積物的搬運方式和介質的水動力條件方面，有一定的參考價值。粒度參數的計算有兩種方法，即矩法與圖解法。矩法計算是一種近似的定量計算，其優點是能使整個粒度分布都投入計算，但計算手續較為復雜。運用矩法統計粒度參數的公式分別是

圖6-7 正態概率坐標

（1）平均值

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（2）標准偏差

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（3）偏度

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（4）尖度

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式中：f為每個粒級中質量百分數（頻率）；m為每個粒級中間值，以φ表示；n為樣品中顆粒總數，當以百分數表示時，n就等於100。

圖解法可以從累積曲線上讀出與某些累積百分數相應的顆粒直徑，稱之為分位數值，再經簡單的數學運算，即可得出粒度參數。此法簡便。精度也可以。

首先，從累積曲線圖上讀出下列參數：

φ₁——累積質量為1%的粒徑φ值；φ₅——累積質量為5%的粒徑φ值；φ₁₆——累積質量為16%的粒徑φ值；φ₂₅——累積質量為25%的粒徑φ值；φ₅₀——累積質量為50%的粒徑φ值；φ₇₅——累積質量為75%的粒徑φ值；φ₈₄——累積質量為84%的粒徑φ值；φ₉₅——累積質量為95%的粒徑φ值。

上列參數又稱之為百分位數，例如φ₁₆相對應於16%處的粒徑φ值，稱之為第16百分位數。φ眾數為含量最高的粒級φ值，可直接從原始分析數據上讀出；＜4φ的粒級含量百分數，也可直接從原始分析數據上讀出。

過去廣泛採用的是特拉斯克（Trask，1930）提出的粒度參數計算公式：

（1）平均值

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（2）分選性

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式中：Q₁為第一四分位數，即相當於25%處的粒徑大小；Q₃為第三四分位數，即相當於75%處的粒徑大小。

（3）偏度

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特拉斯克的參數精度較差，不能表示出分布的粗尾和細尾的特徵。因此，目前大都採用福克及沃德（Folk and Ward，1957）提出的粒度參數計算公式：

（1）平均值

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（2）標准偏差

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（3）偏度

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（4）尖度

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平均值可以反映沉積物的平均粒度，它是沉積物粒度特徵中最主要的特徵之一，常被用來作剖面粒度韻律曲線，作為沉積韻律的基礎。或是作平面等值線圖，表示沉積物在平面上的粒度變化。作為岩性變化的基礎，劃分沉積相帶，追索物源方向。或是用於研究儲油物性與粒度關系等方面，應用很廣。

標准偏差（σ_φ）用來表示沉積物粒度的分選程度，即顆粒大小的均勻性。若粒級少，主要粒級很突出，百分含量高，分選就好，標准偏差的數值小；反之，粒級分布范圍很寬，主要粒級不突出，甚至是兩峰或多峰沉積物，則分選就差，標准偏差的數值大。

偏度（SK_φ）是用以度量頻率曲線的不對稱程度的，即表示非正態性特徵的。按頻率曲線對稱的性質分為三類：正偏態、正態及負偏態（圖6-8）。偏度公式的前一半是表示頻率曲線中央部分的偏度，另一半表示粗細兩尾端的偏度。

圖6-8 正態頻率曲線和正偏態、負偏態曲線

1）曲線對稱時，SK_φ=0。

2）曲線不對稱呈正偏時，SK_φ＞0，最大可達+1，通常不超過+0.8。

3）曲線不對稱呈負偏時，SK_φ＜0，最小可到-1，通常不超過-0.8。

偏度與分選有密切關系，很純的分選、很好的單峰沉積物頻率曲線是對稱的；當有另一組粗或細的少量組分加入時，分選變差，頻率曲線為不對稱，為正偏或負偏；當新加入組分的含量逐漸增加，相應地舊組分減少，至兩組分的含量相等時，分選最差，頻率曲線呈平坦的馬鞍狀雙峰曲線，又趨於對稱。

尖度或稱峰態（K_φ）是計算分布曲線尾部展開度與中部展開度的比例來表示的。用之來說明與正態分布曲線相比時分布曲線的峰的寬窄尖銳程度（圖6-9）。按福克和沃德（1957）所建議的尖度公式，正態曲線的K_φ=1.01，雙峰分布的K_φ值可能低至0.68，而含尾部的尖峰分布，其K_φ可能在1.5～3之間，或更大些。

尖度和偏度一樣，都是用來測量沉積物頻率曲線的雙峰性質和反映其尾部變化的。由於沉積物的粒度分布，以粗細兩尾端部分對搬運介質的機械作用反映最靈敏，所以尖度和偏度可用於判斷沉積環境和追溯物源方向。真正的單峰沉積物，如海灘砂，應該為常態曲線，有正常的偏度和尖度值。不正常的偏度和尖度值的出現說明沉積物是雙峰或多峰的多物源的混合沉積物，在頻率曲線上應顯示雙峰或多峰性質。但當次峰不明顯時，曲線反映不出來，而偏度和尖度卻能靈敏地表示出微弱的雙峰或多峰性質。有的尖度比偏度更靈敏些。

圖6-9 寬窄峰態與正態曲線形態的比較

㈢ 實習二 粒度分析資料整理與分析

沉積物的顆粒大小稱為粒度。研究碎屑沉積物和碎屑岩的粒度分布特徵的方法稱為粒度分析。粒度分布特徵可反映沉積介質的流體力學性質，故是判別水動力條件及沉積環境的一個重要標志，而且對於油氣沉積儲層的評價具有重要意義。

碎屑物質的搬運和沉積作用受水動力條件（如介質、流量、流速）的控制。因此，粒度大小及分布特徵，可用來直接反映沉積時的水動力條件。

研究粒度分布特徵，可提供以下信息：①明確搬運介質性質，如風、水、冰川、泥石流、濁流等；②判斷搬運介質的能量條件，如流速、強度、起動能力等；③明確搬運方式，如滾動、跳躍、懸浮等；④明確沉積作用流體的性質，如牽引流、濁流等。

一、顆粒的測量與分組

粒度分析的方法很多，從原始的手工測量到由計算機控制的自動化儀器測量均有。最常用的方法有：直接測量法、篩析法、薄片法、激光衍射粒度分析等。選用的方法取決於測定對象的粒度大小及岩石的緻密程度。對於緻密的砂岩和粉砂岩一般採用薄片粒度分析法，即在顯微鏡下，用測微尺直接測量岩石薄片中顆粒的最大視直徑，或將攝像裝置與顯微鏡連接，使用由計算機控制的圖像分析儀測量岩石薄片中顆粒的最大視直徑。統計測量時的抽樣方法可採用線測法或視域帶法：線測法可用劃線或機械台控制測線，凡測線上的顆粒均測，適合於人工測量；視域帶法就是在一個視域內的顆粒全部測完後再移至相鄰的下一個視域，兩個視域應在某一十字絲方向上相切，適合於圖像分析測量。每個岩石樣品的薄片要求統計300～500個顆粒，並將測量直徑d（mm）換算成ϕ值（d值和ϕ值的對應關系見表2-1），按

ϕ或

ϕ間隔分組，計算各組內顆粒百分數。

表2-1 粒徑d值和ϕ值的對應表

二、粒徑校正與雜基校正

（一）粒徑校正

運用薄片粒度分析的方法所得到的分析結果與篩析法得到的結果有一定的偏差，薄片粒度與篩析粒徑之間的偏差可達0.25ϕ或更大，這是切片效應造成的結果（切片效應是指在顆粒集合體的切片中，顆粒的視直徑均小於其真直徑），因此必須進行校正。常用弗里德曼（1962）提出的粒度校正公式：

D＝0.3815+0.9027d

式中：D為校正後篩析直徑，ϕ；d為薄片中視直徑，mm。

（二）雜基校正

在運用薄片粒度法進行粒度分析時還必須考慮砂岩中基質的影響，即進行雜基校正，方法是用顯微鏡測定或估出雜基含量，由於切片效應和成岩後生作用，估計的雜基含量值一般較高，常取其2/3或1/2為校正值，假定為x，將各累計頻率乘以（100-x）作為該粒級的真正百分含量。

三、資料整理和編圖的步驟和方法

（一）直方圖

直方圖是最常用的粒度分析圖件（圖2-1a），其橫坐標為顆粒粒徑（d值或ϕ值）區間，縱坐標表示各粒級區間的百分含量，作出一系列相互連接、高低不平的矩形圖。直方圖優點是能直觀、簡明地反映出粒度分布特徵（繪制直方圖時為使圖件美觀，要注意縱、橫坐標的比例關系）。

圖2-1 直方圖（a）及由直方圖所作頻率曲線（b）

（二）頻率曲線

頻率曲線是用平滑曲線將直方圖每個柱子頂端橫邊的中點依次連接而成的曲線（圖2-1b），其圍限的面積基本等於直方圖的面積和。頻率曲線可清楚地表明粒度分布特點、分選好壞、粒度分布的對稱度（偏度）及尖度（峰度）等。

（三）累積曲線

累積曲線是以累積百分含量為縱坐標（算術標度），以粒徑（d值或ϕ值）為橫坐標，從粗粒一端開始，在圖上標出每一粒級的累計百分含量。將各點以圓滑的曲線連接起來，即成累積曲線（圖2-2之2）。累積曲線一般呈S形，從圖上可看出其粒級分選的好壞，在計算粒度參數時也可由圖上讀出某些累計百分比對應的粒徑值。

（四）概率累積曲線

概率累積曲線也是一種粒度累積曲線（圖2-3），它是在正態概率紙上繪制的，橫坐標代表粒徑（d值或ϕ值）；縱坐標為以概率標度的累積百分數，概率坐標不是等間距的，而是以50%處為對稱中心，上下兩端相應地逐漸加大，這樣可以將粗、細尾部放大，並清楚地表現出來。概率曲線一般包含有3個次總體（也有部分圖件只有1個或2個次總體），在概率圖上表現為3個直線段，代表了3種不同的搬運方式，即懸浮搬運、跳躍搬運和滾動搬運。3個次總體在累積概率曲線上分別稱為懸浮總體、跳躍總體和滾動總體（牽引總體），概率圖上除3個次總體之外的其他參數有：截點、混合度、次總體百分含量、分選性。

圖2-2 三種常見的粒度曲線

（據賴內克等，1973；轉引自陳建強等，2015）

1—頻率曲線；2—累積曲線；3—概率累積曲線

圖2-3 概率累積曲線及粒度分布中的總體

（據維謝爾，1969；轉引自陳建強等，2015）

（五）粒度參數計算

常用的粒度參數有平均粒度（Mz）、標准偏差（σ_i）、偏度（Sk）、峰態（K_G），常用圖解法計算粒度參數，即從累積曲線上讀出某些累積百分比處的顆粒直徑（ϕ值），再以簡單算術公式計算各種粒度參數。

（1）平均粒度（Mz）：表示一個樣品的平均粒度大小，反映搬運介質平均動能，計算公式為：

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（2）標准偏差（σ_i）：表示分選程度，即反映顆粒的分散和集中狀態，計算公式為：

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（3）偏度（Sk）：用來表示頻率曲線對稱性的參數，偏度計算公式為：

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（4）峰態或尖度（K_G）：用來在與正態頻率曲線相對比時，說明曲線的尖銳或鈍圓程度。峰態計算公式為：

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（六）C-M圖

C-M圖是帕塞加（Passega）提出的綜合性成因圖解（圖2-4），是一種粒度參數散布圖。一般認為C值和M值這兩個粒度參數最能反映介質搬運和沉積作用的能力，故運用這兩個參數分別作為雙對數坐標紙上的縱、橫坐標（以微米為單位），構成C-M圖。C值為累積曲線上含量為1%的粒徑值（以微米為單位）；M值為累積曲線上含量為50%的粒徑值（以微米為單位）。

圖2-4 濁流和牽引流沉積的C-M圖型

（據Passega，1964）

典型的C-M圖形可劃分為NO、OP、PQ、QR、RS各段和T區。不同區段代表不同沉積作用的產物：①NO段代表滾動搬運的粗粒物質，C值大於1mm；②OP段以滾動搬運為主，滾動組分和懸浮組分相混合，C值一般大於800μm，而M值有明顯變化；③PQ段以懸浮搬運為主，含有少量滾動組分，C值變化而M值不變；④QR段代表遞變懸浮段，遞變懸浮搬運是指在流體中懸浮物質由下到上粒度逐漸變細，密度逐漸變低，C值與M值成比例變化，從而使這段圖形與C＝M基線平行；⑤RS段為均勻懸浮段，C值變化不大，而M值變化大，主要是細粉砂沉積物；⑥T區為遠洋懸浮物，M＜10μm。

編制C-M圖的樣品通常從一套同成因的地層單元中系統採集，從最粗到最細粒的各種代表性岩性中均應分別取樣，每一個C-M圖取樣數一般為20～30個，在C-M圖上構成一個點群，描繪出點群的外形即為C-M圖。因此，每一個C-M圖可反映幾米至幾十米厚的同成因地層剖面岩石的粒度特徵。

四、實習內容

根據所給數據資料繪制粒度分析的直方圖、頻率曲線、累積曲線、概率累積曲線和C-M圖。用圖解法計算粒度參數，並解釋其環境意義。

五、實習目的與要求

掌握粒度分析資料的整理、圖件的編制、粒度參數的計算及解釋。

六、實習資料和作業

（一）實習資料

（1）樣品A薄片粒度測量數據統計表（表2-2）。

表2-2 樣品A薄片粒度測量數據統計表

（2）地層B薄片粒度分析的C-M值（表2-3）。

表2-3 地層B薄片粒度分析的C-M值

（二）作業

（1）根據表2-2所給數據分別繪制樣品A的直方圖、頻率曲線、累積曲線、概率累積曲線。

（2）用圖解法計算粒度參數：平均粒度（Mz）、標准偏差（σ_i）、偏度（Sk）、峰態（K_G），並解釋其環境意義。

（3）根據所給的地層B薄片粒度分析的C-M數據（表2-3）編制C-M圖，並進行流體性質和沉積環境解釋。

實習報告二 粒度分析資料整理與分析

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㈣ 測粒徑的時候，會得到粒徑和PDI的數據，想請教一下，PDI是粒徑分布指數，它的具體定義是什麼

1、Polymer dispersity index(PDI)是聚合物分散性指數，用於描述聚合物分子量分布。

高分子的分子量通常不均一，本質上是混合物，用平均分子量來描述高分子的分子量大小，平均分子量可分為數均分子量、重均分子量和粘均分子量，其中重均分子量和數均分子量之比稱為多分散性指數，數值大於1。PDI越大，分子量分布越寬；PDI越小，分子量分布越均勻。

2、粒徑的表示

一般將粒徑分為代表單個顆粒大小的單一粒徑和代表由不同大小的顆粒組成的粒子群的平均粒徑。由於實際顆粒的形狀通常為非球形的，難以直接用直徑表示其大小，因此在顆粒粒度測試領域，對非球形顆粒，通常以等效粒徑（一般簡稱粒徑）來表徵顆粒的粒徑。

等效粒徑是指當一個顆粒的物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體（或組合）最相近時，就把該球體的直徑（或組合）作為被測顆粒的等效粒徑（或粒度分布）。

（1）、最大粒徑

指粒度分布曲線中最大顆粒的等效直徑。D90粒徑、D95粒徑、D98粒徑分別是分布曲線中累積分布為90%、95%、98%時的最大顆粒的等效直徑。

（2）、單一粒徑

球形顆粒的大小是用其直徑來表示的。對於非球形顆粒，一般有三種方法定義其粒徑，即投影徑、幾何當量徑和物理當量徑。投影徑指顆粒在顯微鏡下所觀察到的粒徑。幾何當量徑取與顆粒的某一幾何量相等時的球形顆粒的直徑。物理當量徑取與顆粒的某一物理量相等時的球形顆粒的直徑。

（3）、平均粒徑

平均粒徑是粒度分布曲線中累積分布為50%時的最大顆粒的等效直徑。對於一個由大小和形狀不相同的粒子組成的實際粒子群，與一個由均一的球形粒子組成的假想粒子群相比，如果兩者的粒徑全長相同，則稱此球形粒子的直徑為實際粒子群的平均粒徑。

(4)統計粒徑需要多少個數據擴展閱讀

1、粒度的測量實質上是通過把被測量顆粒和同一種材料構成的圓球相比較而出的；

2、不同原理的儀器選不同的物理特性或物理行為作為比較的參考量，例如沉降儀選用沉降速度，激光粒度儀選用散射光能分布，篩分法選用顆粒能否通過篩孔等；

3、將待測顆粒的某種物理特性或物理行為與同質球體作比較時，有時能找到一個（或一組）在該特性上完全相同的球體，有時則只能找到最相近的球體。由於理論上可以把「相同」作為「相近」的特例，所以在定義中用「相近」一詞，使定義更有一般性；

4、將待測顆粒的某種物理特性或物理行為與同質球體作比較時，有時能找到某一個確定的直徑的球與之對應，有時則需要一組大小不同的球的組合與之對應，才能最相近。

5、顆粒的大小統稱為粒度（particlesize）。具體地說，球形顆粒的粒度用他的直徑表示稱為「粒徑（particlediamite）」，非球形顆粒沒有直徑可言，就採用「等效粒徑」的概念描述它的粒度，不同的等效粒徑有不同的物理意義。粒徑是較為具體准確的物理概念。

㈤ 粒度分布的計算方法

D50：一個樣品的累計粒度分布百分數達到50%時所對應的粒徑。它的物理意義是粒徑大於它的顆粒佔50%，小於它的顆粒也佔50%，D50也叫中位徑或中值粒徑。D50常用來表示粉體的平均粒度。

D90：一個樣品的累計粒度分布數達到90%時所對應的粒徑。它的物理意義是粒徑小於它的的顆粒佔90%。D90常用來表示粉體粗端的粒度指標。 其它如D16、D90等參數的定義與物理意義與D97相似。

D10：D10就是縱坐標累計分布10%所對應的橫坐標直徑值。

顆粒累計分布為10%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的10%。顆粒粒徑分布為50%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的50%。顆粒粒徑分布為90%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的90%。

產品種類豐富，其中激光衍射粒度分析儀可為干濕法分散提供快速、精確、便捷的粒徑分布測試。 該分析儀可在納米至毫米粒度范圍內進行測量，體積小巧、性能卓越、穩定可靠，可為所有用戶提供無需操作者干預的測量。

(5)統計粒徑需要多少個數據擴展閱讀：

數學方程式亦可用來描述粒度分布。雖曾有人嘗試將這類數學式與實際斷裂力學相聯系，但多數還是一些僅便於表述數據的經驗關系式。當數據必須處理時，數學式可能有用；但這往往要求使用計算機，而在這類條件下，實際數據的矩陣表示同樣方便，而且更可靠。

粒度數據的圖示法通常是以橫坐標(x軸)列出顆粒粒度，以縱坐標(y軸)列出測得的基準量。表示數量有兩種方法：一種是列出每一粒級中的量(絕對量，分數，或百分數)，另一種方法是列出高於或低於某一粒度的累計量(分數或百分數)。

㈥ 如何用Origin統計粒徑大小及分布

1. 數據放在一列，類型設置為Y

2. 選中這列數據，plot選項卡---Statistics---Histogram（如果要畫累積分布曲線則選擇Histogram+Probabilities）

3. 如果想看統計的數據則可以在Graph界面右鍵--got to bin worksheet（步長等可以自己設置）
   

㈦ 如何用謝樂公式計算粒徑

求助 jade 或其他軟體 利用謝樂公式計算粒徑

初次接觸jade 請大家幫我計算下 附件中四個 raw數據的 平均粒徑。
元素均為NiZnO, 需要知道 Ni ZnO 粒徑。
我用jade 6.5 ，它裡面可以直接計算粒徑，但不知道 對不對。懇請大家幫助。

那個是晶胞 不是晶粒尺寸，你在核查一下。我自己也不確定了。

lkzmaster

11樓:Originally posted bylinqi723at 2011-02-25 09:08:09:
jade 擬合
jade 6.5 ， 尋峰報告， 擬合
5b/33/559344_1298596024_278.jpg

請問一下report的最後一項XS（A），數據中括弧里代表什麼就比如176（4）這里的176和4各代表什麼呢？

㈧ 粒度分析

粒度與搬運流體的性質及其力學特徵密切相關，它是判別環境的標志之一。目前國際上應用最廣的粒度分級標準是伍登-溫德華粒級。它是以1mm作為基數乘以或除以2來分級的。後經克倫賓將其轉化為φ值。轉換公式為：

φ＝-log₂d

式中：d為毫米直徑值。形成一個以1為基數，2為公比數的等比級數列。如表4-3所示。

表4-3 伍登-溫德華φ值粒度標准

^*有些分界點記為0.05mm；^**有些分界點記為0.005mm

沉積物粒度測量方法，主要包括放大鏡、照片分析、篩析、沉降分析、顯微鏡下粒度分析等方法。針對不同的顆粒選擇適用的方法進行測量，其中，礫石等顆粒級別較大的多用皮尺或測量規直接測量，用量筒測礫石的體積。可松解或疏鬆的細、中碎屑岩多採用篩析法。粉砂及黏土岩常用沉降法、流水法等方法測量。固結的無法松解的岩石多採用顯微鏡下粒度分析。不同的方法測出的結果，略有差別，需校正後才能互用，其中沉降粒徑和篩析粒徑之間的偏差小於或等於0.1φ，可以直接互用。但薄片顯微鏡下分析粒徑，因存在切片效應，需經過弗里德曼（1962）所提出的粒度的回歸校正方程：

D＝0.3815+0.9027d

式中：D為校正後的篩析粒徑，d是薄片中測定的視長徑，均為φ單位。進行校正後才能與篩析法的結果相互用，一般校正後的平均粒徑最大偏差一般不超過1/4φ單位。

此外，在粒度測量中雜基校正是一項重要的工作，其方法是：顯微鏡測至7φ，測定或估出雜基含量。取其2/3～1/2為校正值，假定為Δ，將各累計頻率乘以（100-Δ），重新繪曲線。對於弱固結岩石，可用同一標本既做篩析也作薄片分析，通過實驗求出校正系數（100-Δ）的數值。

粒度分析的結果可獲取到大量的測值，這種大量的數字資料要用統計的方法加以處理，才能推斷其與流體力學性質和沉積環境之間的關系。主要的方法是：根據資料做出一些圖件，從這些圖件上做定量的解釋分析。或者直接通過計算，統計參數。兩種方法各有優劣，往往需綜合分析利用。

粒度分析圖主要包括直方圖、頻率曲線圖和累積曲線圖（累積百分含量圖）。其中最常用的是累積百分含量圖，是由維希爾（1969）根據采自現代和古代不同環境內的1500個樣品測得的粒度數據，以粒徑（φ值）為橫坐標，以累積概率值為縱坐標，用來表現大於一定粒級的百分含量統計圖。他通過分析得出了沉積物搬運方式與粒度分布之間的關系，以及一些環境的概率圖模式（圖4-1）。

圖4-1 搬運方式與粒度分布的關系

（據Visher，1969）

沉積物的粒度一般不是表現為單一的對數正態分布，因此，在概率分布圖上總是表現為幾個相交的直線段。每個直線段是不同搬運方式產生的響應。主要包括牽引負載、跳躍負載和懸浮負載三種。其中，懸浮負載的顆粒一般很細，粒徑在0.1mm左右，其負載顆粒的粗細變化取決於介質的擾動強度，在概率圖上的右上角形成懸浮次總體；跳躍負載是指靠近河床底部層，通過在動盪的水中或流水中對顆粒進行分選，粒徑一般在0.15～1.0mm之間，往往是沉積樣品中分選最好的組分，在概率圖的中部形成跳躍次總體，其不是一個粒度總體，而是由兩部分組成，如海灘砂；底部牽引負載是粗粒組分，因顆粒粗而在地面上滾動，形成的滾動次總體位於圖的左下方。沉積物因粒徑大小和分選性的不同，經歷了不同的搬運方式，在累積概率圖上形成了不同的次總體直線。直線的不同斜率代表不同的分選性，斜率越大代表分選越好，一定的粒度分布區間和斜率，表明不同的次總體具有一定的平均粒徑和標准偏差。各直線段的交點稱為交截點，有的樣品在兩個粒度次總體間有混合帶，在圖上表現為兩線段圓滑接觸。

大量的粒度數據通過計算獲得各種分析參數後，往往也通過作圖來進行定量分析，最常用的是弗里德曼（1961，1967）通過對現代海洋與河流、湖灘沉積所做的粒度分析，用粒度參數離散圖（採用10種粒度參數，作出19種圖）來區分河流與海（湖）灘沉積。離散圖能夠把不同成因的砂區別開來，是由於不同成因的砂具有不相同的結構參數。

此外，C-M圖也是另外一種常用的圖版（圖4-2），它是應用每個樣品的C值和M值繪成的圖形，由Passega（1957，1964）所提出。其中，C值是累積曲線上顆粒含量1%處對應的粒徑，M值是累積曲線上50%處對應的粒徑。C值與樣品中最粗顆粒的粒徑相當，代表了水動力攪動開始搬運的最大能量；M值是中值，代表了水動力的平均能量。該圖版對於每一個樣品都可以用其C值和M值，在以C值為縱坐標，以M值為橫坐標的雙對數坐標紙上投得一個點，研究沉積地層包含的由粗至細的全部粒度結構類型樣品在圖紙上會投得一個點群。根據點群的分布繪出的圖形形態、分布范圍，以及圖形與C-M基線的關系等特點，與已知沉積環境的典型C-M圖進行對比，再結合其岩性特徵，從而對該層沉積岩的沉積環境做出判斷。

圖4-2 牽引流的C-M圖像及粒度類型

（據Passega，1964）

在C-M圖中，Ⅰ，Ⅱ，Ⅲ，Ⅸ 段表示C＞1000μm，Ⅳ，Ⅴ，Ⅵ，Ⅶ，Ⅷ段表示C＜1000μm。1表示牽引流沉積，2表示濁流沉積，「T」代表靜水懸浮沉積。「S」形圖是以河流沉積為例的完整C-M圖，可劃分為N—O—P—Q—R—S段。其中從左至右：

N—O段基本上由滾動顆粒組成，C值一般大於1mm（1000μm），常構成河流的砂壩礫石堆積物。

O—P段是滾動物質與間歇懸浮物質（跳躍）混合，物質組分中滾動組分與懸浮組分相混合。C值一般大於800μm，但由於滾動組分中有懸浮物質的參加，從而使M值有明顯的變化。C值稍微變化即會使M 值發生重大改變，即粒度分布極不對稱，粗細首尾不均。

P—Q段是以間歇懸浮質為主，粗粒滾動質減少。由上游至下游C值變化而M值不變，說明隨著流體搬運能力的減弱，越向下游滾動組分的顆粒越小。但由於滾動顆粒的數量並不多，因此M值基本不變。P點附近的C值以C_r表示，它代表著最易作滾動搬運的顆粒直徑。

Q—R段為遞變懸浮段，沉積物的特點是C值與M值相應變化，顯示出與C＝M線平行的結果，主要搬運方式為遞變懸浮搬運，懸浮物質組分在流體中由下向上粒度逐漸變細，密度逐漸變低。它一般位於水流底部，常是由於渦流發育造成的。該段C的最大值以C_s表示。

R—S段為均勻懸浮段，是粒徑和密度不隨深度變化的完全懸浮，隨著M值向S端逐漸變小，C值基本不變，最大C值即C_u，它代表均勻懸浮搬運的最大粒級。搬運方式常是遞變懸浮之上的上層水流搬運，不受底流搬運分選，物質組成主要為粉砂和泥質混合物，最粗的粒度為細砂。表示在河流中從上游至下游沉積物的粒度成分變化不大，只是粗粒級含量相對減少。

C-M圖也可用來研究水深、分選性、古流速和碎屑岩分類等，它是一種多功能綜合圖。

㈨ 粒度直方圖需要哪些數據

需要累計粒度分布數據與曲線、區間粒度分布數據與直方圖、典型粒徑值。直方圖直方圖是最常用的粒度分析圖件，以橫坐標表示粒級大小，縱坐標表示粒級的百分含量，每個粒級都按其百分含量畫出不同高度的柱子，來表示粒度分布的特徵。

㈩ 粒度分析報告怎麼看 粒度分布圖數值怎樣分析

1、測試報告由6部分組成：表頭、樣品信息及測試信息、分析結果、圖形、數據表、表尾。

2、量程：即測試范圍，在軟體的數據模板中選定。

3、分散介質：用於分散被測樣品的介質。被測物質與分散介質不能發生化學反應，也不能在其中溶解。

4、分散劑：能夠改變顆粒與液體之間的界面狀態，促進顆粒充分分散的化學物質。

5、光學濃度：即遮光比。

6、樣品濃度：即樣品在分散介質中的體積百分比濃度，需要在系數校準設置中輸入體積百分比計算系數後才能分析。

7、自由分布：由無約束自由擬合演算法所得的樣品本身固有的自然粒度分布。軟體中還設有R-R分布和對數正態分布。

8、X10：顆粒累計分布為10%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的10%。

9、X50：顆粒粒徑分布為50%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的50%。

10、X90：顆粒粒徑分布為90%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的90%。

11、Xav：顆粒群的平均粒徑。

12、S/V：體積比表面積，即單位體積顆粒的表面積。

13、X[3，2]：表面積平均粒徑，是粒徑對表面積的加權平均，又稱索太爾平均徑。

14、X[4，3]：體積平均粒徑，是粒徑對體積（或重量）的加權平均，同上述Xav。

15、擬合誤差：能譜數據向粒度分布數據轉換時產生的計算誤差。

16、自定義項目分析結果：用戶根據需要自行添加的分析項目，添加該分析項目後，軟體自動顯示出結果。